應力雙折射測量係統

• 型 號：WPA-200
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• 更新時間：2024-09-03
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應力雙折射測量係統WPA係列可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其光子晶體製造技術開發的產品，*的測量技術使其成為*的光學測量產品。該產品在測量過程中可以對視野範圍內樣品一次測量，全麵掌握應力分布。WPA-200型更是市場上的萬能機器，適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果，二維圖表可以更直觀的讀取數據。

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WPA係列可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其的光子晶體製造技術開發的產品，*的測量技術，使其成為*的光學測量產品。 應力雙折射測量係統在測量過程中可以對視野範圍內樣品一次測量，全麵掌握應力分布。WPA-200型更是市場上的萬能機器，適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果，二維圖表可以更直觀的讀取數據。

應力雙折射測量係統WPA-200主要特點:

• 操作簡單，測量速度可以快到3秒。

• 采用ＣＣＤ Camera，視野範圍內可一次測量，測量範圍廣。

• 測量數據是二維分布圖像，可以更直觀的讀取數據。

• 具有多種分析功能和測量結果的比較。

• 維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。

• *很高的殘餘應力測量設備。

主要應用：

· 光學零件（鏡片、薄膜、導光板）

· 透明成型品（車載透明零件、食用品容器）

· 透明樹脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC）

· 透明基板（玻璃、石英、藍寶石、單結晶鑽石）

· 有機材料（球晶、FishEve）

技術參數：