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PI/WPI偏振相機能夠獲得實時的偏振信息，作為一個正常的圖像，並在高分辨率。 它們被應用在許多領域，包括利用偏振特征識別暗物體，激光光束的實時偏振監測等。 除了PI功能可以記錄線偏振度（DOLP）和主軸方向角，WPI還可以全麵記錄Stokes參數和偏振度（DOP），這在部分偏振情況下是必要的。

玻璃應力雙折檢測係統PA300和PA300-L是Photonic lattic公司以其L先世界的光子晶體製造技術開發的產品，*的測量技術，高速而又的測量3D玻璃，晶體等產品的雙折射效應，得出的相位差數值，從而量化出產品應力數值，在測量過程中可以對視野範圍內樣品一次測量，全麵掌握應力分布。廣泛應用於手機3D玻璃的研發，生產，質量測試中。

顯微鏡型相位差測量儀WPA-micro操作簡單，測量速度可以快到3秒，?采用ＣＣＤ Camera，視野範圍內可一次測量，測量範圍廣。?測量數據是二維分布圖像，可以更直觀的讀取數據。?具有多種分析功能和測量結果的比較。?維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。

應力雙折射測量係統WPA-200-L係列是Photonic lattic公司以其L先世界的光子晶體製造技術開發的產品，*的測量技術，高速而又精q的測量能力使其成為不可多得的光學測量產品。 該產品在測量過程中可以對視野範圍內樣品一次測量，全麵掌握應力分布。可測數千nm高相位差分布的萬用機器，Z適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果，二維圖表可以更直觀的讀取數據。

玻璃應力雙折射測量係統PA係列分布測量儀:理想的光學玻璃是各向同性的，但在退火過程中由於玻璃內外溫度不同，或者退火爐內各處溫度不等都會產生內應力。光學玻璃內應力的存在，破壞了各向同性，產生雙折射現象，即內部應力的分布現象，現在利用測量雙折射現象來改進光學玻璃的生產工藝，以及用來對光學玻璃的質量控製，成為世界光學玻璃廠商的手段。

雙折射儀-應用3D玻璃——PA200和PA200-L-L是Photonic lattic公司以其世界的光子晶體製造技術開發的產品，*的測量技術，高速而又的測量3D玻璃，晶體等產品的雙折射效應，得出的相位差數值，從而量化出產品應力數值，在測量過程中可以對視野範圍內樣品一次測量，全麵掌握應力分布。廣泛應用於手機3D玻璃的研發，生產，質量測試中。