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透明物體由於不均勻冷卻或其他如受機械作用等原因，其內部會產生內應力，引起雙折射，晶體物質本身具有雙折射的光學特征。應力雙折射儀采用偏振光電矢量合成及光學補償原理，通過對樣品的光程差的定量測定，確定樣品應力雙折射的大小。

　　日本PHL公司應力雙折射儀的原理：   
    
     當光穿透具有雙折射特性的透明物質時，光的偏光狀態會產生變化。換句話說，比較光穿透物體前之後的偏光狀態，即可評估物質的雙折射。該設備裝配的偏光感應器，使用了日本PHL公司*的光子晶體技術組裝而成的偏光感應器，能瞬間將偏光資訊以影像方式提取保存。再搭配專屬的演算、畫像處理軟件，能將雙折射分布數據定量化，變成可以分析的資料。

用途：
        應力儀是用來檢查透明物體內應力大小和分布狀況的儀器。不僅在光學玻璃、光學儀器、玻璃製品、塑料製品等工業得到廣泛應用，而且在建材、燈具、製藥、飲料、工藝品安全防爆指標的檢驗方麵也占有重要地位，在水晶飾品製作、地質礦產、材料科學領域也有不少應用。同時,本儀器也是各大專院校特別理想的教學實驗設備。

　　日本PHL公司應力雙折射儀係統特點：

　　1、操作簡單/快速測定：*的偏振成像傳感器進行簡單的和快速的操作即可測量相位差的分布。

　　2、2D數據的多方麵分析功能：二維數據的強大分析功能，能夠直觀解釋被測樣品的特性。

　　3、大相位差測試能力：通過對三組不同波長的測量數據進行計算，WPA係統可以測量出幾千nm範圍內的相位差。